Klik op een omslag om naar Google Boeken te gaan.
Bezig met laden... Scanning Electron Microscopydoor Lisa Page
Geen trefwoorden Geen Bezig met laden...
Meld je aan bij LibraryThing om erachter te komen of je dit boek goed zult vinden. Op dit moment geen Discussie gesprekken over dit boek. Geen besprekingen geen besprekingen | voeg een bespreking toe
Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments employed in various science fields. SEMs are well instrumented and supplemented with advanced techniques and methods and thereby present endless possibilities in the areas of quantitative measurement of object topologies, surface imaging, performing elemental analysis and local electrophysical characteristics of semiconductor structures. Creation of micro and nanostructures involves extensive use of fine focused e-beam. This book focuses on various issues concerned with scanning electron microscopy, covering both theoretical and practical aspects. Numerous topics are organized under two sections, "Material Science" and "Nanostructured Materials for Electronic Industry". This book includes contributions by renowned researchers and experts in this field. Geen bibliotheekbeschrijvingen gevonden. |
Actuele discussiesGeen
Google Books — Bezig met laden... GenresWaarderingGemiddelde: Geen beoordelingen.Ben jij dit?Word een LibraryThing Auteur. |